Stellen Sie sich vor, Sie untersuchen eine präzise integrierte Schaltung (IC) unter einem Mikroskop und sehen dann nur völlige Dunkelheit, wobei die Details in den grellen Reflexionen verloren gehen.Dies ist eine häufige Herausforderung bei der Verwendung traditioneller Ringbeleuchtung, um ein hochreflektierendes Bild zu erzeugen.Die Lösung für dieses Bilddilemma liegt in der Koaxial-Episcopic-Beleuchtungstechnologie.
Grundsätze und Vorteile der koaxialen Blickleuchte
Koaxal-Episcopie-Beleuchtung, auch als Brightfield-Beleuchtung bekannt, ist speziell für die Beobachtung von Objekten mit hochreflektierenden Oberflächen konzipiert.Koaxiale Beleuchtung lenkt das Licht parallel zur optischen Achse der LinseDie Schlüsselkomponente ist ein Strahlsplitter (oder halbreflektierender Spiegel), der den Beleuchtungsweg mit dem Bildwegsweg auf geniale Weise verbindet.
Im Betrieb geht das Licht der Quelle zuerst durch den Strahlspalter, wo ein Teil des Lichts senkrecht auf die Probenoberfläche reflektiert wird.hochreflektierende OberflächeDas reflektierte Licht geht wieder durch den Strahlspalter.mit einem Teil davon, der in die Linse übertragen und vom CCD-Sensor erfasst wird, um ein helles Bild zu bildenLicht von geneigten Oberflächen reflektiert sich in verschiedene Richtungen und gelangt nicht in die Linse, erscheint dunkel im Bild und hebt so die Oberflächentopographie hervor.
Diese Beleuchtungsmethode überwindet effektiv die Herausforderungen bei der Bildgebung, die durch reflektierende Oberflächen entstehen.Erzeugung von hellen Bildern mit klaren OberflächendetailsIm Gegensatz dazu verursacht die Winkelbeleuchtung der Ringbeleuchtung, dass das reflektierte Licht die Linse verfehlt, was zu schwachen Bildern mit verschleierten Details führt.
Anwendungen der koaxialen Episkopalen Beleuchtung
Diese Technologie findet einen breiten Einsatz in der hochpräzisen Inspektion und Qualitätskontrolle, insbesondere für:
Vergleich: Koaxial gegen Ringbeleuchtung
| Merkmal | Kohäxial-Episkopische Beleuchtung | Ringbeleuchtung |
|---|---|---|
| Lichtwinkel | senkrecht zur Oberfläche | Einfallwinkel |
| Ideale Proben | Hochreflektierende, flache Oberflächen | Oberflächen mit einer gewissen Rauheit |
| Bildqualität | Helle Bilder mit klaren Details | Potenziell schwache Bilder mit verschleierten Details |
| Typische Anwendungen | IC-Prüfung, Metalloberflächenanalyse, Querschnittprüfung | Allgemeine Objektbeobachtung, Oberflächentopographie |
| Optische Komplexität | Komplexer (erfordert einen Strahlspalter) | Einfacheres Design |
Schlussfolgerung
Durch die Verwendung einer senkrechten Beleuchtung und eines Strahlsplitters ist eine wirksame Lösung für die Bildgebung von hochreflektierenden Oberflächen möglich.Es verbessert die Bildhelligkeit und den Kontrast erheblichVon der IC-Inspektion über die Metallverarbeitung bis hin zur MaterialwissenschaftDiese Technologie spielt eine wichtige Rolle bei der hochpräzisen Qualitätskontrolle und Analyse.